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    半導體測量
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    ZEISS SPECTRUM II

    ZEISS SPECTRUM II

    • 所屬分類:Zeiss
    • 瀏覽次數:
    • 發布日期:2020-10-23 14:45:16
    • 產品概述
    • 性能特點
    • 技術參數

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    主要性能

    蔡司 RDS-C5關節式探頭座,配合我們的 XDT 多點探頭或 Renishaw TP20觸發式探頭。GOM三維掃描儀,確保能夠精準測量到復雜位置的角度特征。關節式探頭座提供雙向 +/- 180 °旋轉,允許以5°的步距角運行,使探頭能夠到達 5,184 個不同的角度位置。

    也可以配置成SPECTRUM與 XDT 直接連接,用于一般棱柱形特征的測量。

    CAA (計算機輔助精度修正) 確保了對機器的動態形變進行計算機輔助誤差補償

    機器技術

    花崗石機器臺面為這臺測量機奠定了堅實的結構基礎。

    四面環抱的蔡司的氣浮軸承確保更好的穩定性和測量精度。

    控制柜、軟件、探頭和其它組件均采用先進的材料和技術,造就了產品的上乘品質。

    獨立于計算機的標準控制面板允許您不需計算機,只需測量機旁邊的搖桿就能進行手動定位。CNC 運行時,可通過速度旋鈕隨時進行速度控制。


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    icon7.png 關鍵詞:關節臂測量儀,半導體測量,GOM三維掃描儀

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