<label id="2ni1n"></label>

<th id="2ni1n"><pre id="2ni1n"></pre></th>
<rp id="2ni1n"><object id="2ni1n"><blockquote id="2ni1n"></blockquote></object></rp>
<span id="2ni1n"><pre id="2ni1n"></pre></span>

  1. <th id="2ni1n"><pre id="2ni1n"></pre></th>

    <tbody id="2ni1n"></tbody>
    <progress id="2ni1n"></progress>
  2. <tbody id="2ni1n"></tbody>
  3. <li id="2ni1n"><tr id="2ni1n"></tr></li>
    <tbody id="2ni1n"></tbody>
    半導體測量
    您當前的位置 : 首 頁 > 產品中心 > 鍍層測厚儀
    XDL / XDLM / XDAL

    XDL / XDLM / XDAL

    • 所屬分類:鍍層測厚儀
    • 瀏覽次數:
    • 發布日期:2020-10-23 13:57:09
    • 產品概述
    • 性能特點
    • 技術參數

    憑借電機驅動(可選)與自上而下的測量方向,XDL? 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號,從而能夠根據不同的測量需求選擇最適合的 X 射線儀器。


    20


    特性:

    X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合,可完成各種測量任務

    由于測量距離可以調節(大可達 80 mm),適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件

    通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸(可選)實現自動化的批量測試

    半導體測量,使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器,非常適用于測量超薄鍍層(XDAL 設備)

    應用:

    鍍層厚度測量

    大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量

    電路板上較薄的導電層和/或隔離層

    復雜幾何形狀產品上的鍍層

    鉻鍍層,如經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品

    氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質涂層厚度測量


    材料分析

    電鍍槽液分析

    電子和半導體行業中的功能性鍍層分析


    上一篇:沒有了
    下一篇:沒有了

    最近瀏覽:

    相關產品

    相關新聞

    聯系我們

    icon1.png 公司名稱:無錫天之瑞科技有限公司

    icon2.png  聯系手機:18800576288  張先生

    icon3.png  聯系電話: 0510-81081298

    icon5.png 公司郵箱:info@tech-real.cn

    icon6.png 公司地址:江蘇省無錫市新吳區天山路6-515號

    icon7.png 關鍵詞:關節臂測量儀,半導體測量,GOM三維掃描儀

    <label id="2ni1n"></label>

    <th id="2ni1n"><pre id="2ni1n"></pre></th>
    <rp id="2ni1n"><object id="2ni1n"><blockquote id="2ni1n"></blockquote></object></rp>
    <span id="2ni1n"><pre id="2ni1n"></pre></span>

    1. <th id="2ni1n"><pre id="2ni1n"></pre></th>

      <tbody id="2ni1n"></tbody>
      <progress id="2ni1n"></progress>
    2. <tbody id="2ni1n"></tbody>
    3. <li id="2ni1n"><tr id="2ni1n"></tr></li>
      <tbody id="2ni1n"></tbody>
      漂亮的女学生被强BD在线观看_日本黄又粗暴一进一出抽搐_日本XXXX自慰XXXX_人人妻人人狠人人爽