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    半導體測量
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    MARSURF XC 2 MIT CD 120 輪廓測量站

    MARSURF XC 2 MIT CD 120 輪廓測量站

    • 所屬分類:德國馬爾測量儀
    • 瀏覽次數:
    • 發布日期:2020-10-23 13:29:37
    • 產品概述
    • 性能特點
    • 技術參數

    精密輪廓測量入門之選
           測量和評估工件和工具上與功能相關的幾何參數是研究、設計和工業的基本要求。相對其他方法,快速、簡單而經濟的 2D 輪廓測量系統受到越來越多的青睞。MarSurf XC 2 可滿足精度和評估標準范圍相關的各方面需求。GOM三維掃描儀,同時,它還能提供安全而可靠的結果。

    輪廓測量站

    ·利用相關元件,更換基準元件后可立即對基準元件相關的參數重新計算。
          ·密碼保護用戶訪問權限,避免不當使用
          ·以多年經驗為基礎的出色校準流程,包括幾何形狀校準、測量力校準、彎曲補償等等
          ·穩定、堅固的測頭
          ·平滑運行,穩定而準確的驅動裝置
          ·根據各種調整速度自動降低和抬高測桿
          ·高定位精度
          ·專利測桿固定技術,防碰撞保護

    輪廓測量站

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