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    半導體測量
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    MARSURF XR 1 粗糙度測量站

    MARSURF XR 1 粗糙度測量站

    • 所屬分類:德國馬爾測量儀
    • 瀏覽次數:
    • 發布日期:2020-10-23 13:29:23
    • 產品概述
    • 性能特點
    • 技術參數

    MarSurf XR 1.  用戶友好型表面度量的理想的低成本入門儀器。
    該計算機式儀器根據國際標準為測量室或生產提供所有常見的表面參數和輪廓。半導體測量,Mahr 的 MarSurf XR 1 代表了粗糙度評估軟件的新成就。

    粗糙度測量站

    ·超過 80 種符合 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 標準的表面參數可用于 R-、P- 和 W 輪廓
    ·帶通濾波器 Ls 符合當前標準;Ls 也可根據需要關閉或更改。
    ·全面的測量記錄
    ·快速創建 Quick&Easy 測量程序的 Teach-in 方法
    ·根據標準選擇截止和掃描長度的自動功能(專利)
    ·通過設置 Ra 或 Rz 參數支持各種校準方法(靜態和動態)
    ·可調維護和校準間隔
    ·多種測量站配置可使用自定義應用
    ·多種選項,提高系統靈活性
    ·各種用戶權限級別,避免設備被濫用,避免未授權人員使用

    粗糙度測量站


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